三種常用鍍層測厚儀的比較
2015/9/30 9:48:50 點(diǎn)擊:
1. 電解測厚儀廣泛用于電鍍層厚度測量的場合
優(yōu)點(diǎn):不受基材材質(zhì)的限制,可為金屬、非金屬、釹鐵硼等
基本不受尺寸大小的限制,通常配備不同的測試頭即可解決,
可測極細(xì)的線材,如直徑0.1mm 線材
可測多層鎳電位差
可測多鍍層,如塑膠上鍍銅再鍍鎳最后鍍鉻
價(jià)位低,經(jīng)濟(jì)實(shí)惠,常規(guī)機(jī)型不會(huì)超過1 萬元
缺點(diǎn):破壞性測量,工件表面會(huì)腐蝕直徑 2.4mm 的小點(diǎn)
2. 磁性測厚儀只能勝任部分鋼鐵基材上鍍層厚度的測量:在鍍層測量應(yīng)用中,通常用來測
鍍鋅層及硬鉻層的厚度
優(yōu)點(diǎn):無損、快速
價(jià)位低、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠
缺點(diǎn):只能測大工件,鍍層厚度小于 10um,測試很不穩(wěn)定
實(shí)際上測硬鉻還可以,測其他鍍層已無實(shí)際意義
只能測單鍍層
3. X-Ray 熒光測厚儀能完成各種鍍層的測量
優(yōu)點(diǎn):無損、快速
缺點(diǎn):不能測細(xì)小的線材上鍍層厚度
不能測多層鎳電位差
厚度大于 30um 鍍層測不了
價(jià)位高,國產(chǎn)也得 10 來萬
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